J4 ›› 2008, Vol. 16 ›› Issue (2): 48-56.
马德锡 1 2,范俊杰 1,于爱军 1,陈勇敢1 ,王治华 1,张峰1
MA Dexi 1 2,FAN Junjie 1,YU Aijun 1,WANG Zhihua 1,ZHANG feng1
摘要:
勘探线长度大于高密度电法实际探测剖面长度时,可先通过滑动测量和滚动测量两种方法采集数据,再将数据处理融合后进行反演,反演结果为长剖面二维断面图,将其与单条短剖面测量反演结果对比,两种结果反映出的电阻率和充电率异常在形态和位置上对应,长剖面测量反演图像能够突出强度较高的异常,用它实现了对整条勘探线上各异常进行强度对比和异常等级划分。
中图分类号:
[2] 郭秀军,王兴泰.用高密度电阻率法进行空洞探测的几个问题[J].物探与化探,2001,25(4):306—311. |
[1] | 梁树昌, 孙甲富, 杨建国. 充电电位剩余分析及其应用[J]. J4, 2006, 14(3): 29-34. |
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